Diffraction des Rayons X (DRX)

  • EMPYREAN PANalytical
  • Passeur 45 positions
  • Détecteur linéaire Xcelerator
  • Source Cuivre

Cet équipement pouvant travailler en réflexion et en transmission, permet la vérification des synthèses, l’identification de phases, la détermination de la taille des cristallites, ou du taux de cristallinité.

Contact : Sandrine ARRII

Diffraction des Rayons X « atmosphère et température contrôlées »

  • D8 ADVANCE Bruker AXS
  • Chambre HTK16 Anton Paar
  • Détecteur linéaire Vantec-1
  • Source Cuivre ou Cobalt

Caractérisations en température : jusqu’à 1100°C-1200°C en utilisant une lame de Kanthal (alliage FeCrAl) comme support, et sous atmosphère contrôlée : gaz inerte, oxydant, réducteur, …

Contact : Sandrine ARRII

Fluorescence X

  • S4 EXPLORER Bruker AXS

Ce spectromètre de fluorescence X dispersif en longueur d’onde, équipé d’un tube Rhodium, permet l’analyse des échantillons liquides et solides. Il est équipé de 2 détecteurs : un compteur proportionnel à flux gazeux pour les éléments légers, et un compteur à scintillations pour les lourds.

Analyse qualitative et semi-quantitative des éléments suivants : du Béryllium à l’Uranium sous vide, du sodium à l’Uranium sous hélium.

Contact : Sandrine ARRII


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