Microscopía electrónica de transmisión y la transmisión de barrido

– Contactos: J. Rousseau & S. Pronier (+33.5.49.45.35.57)

– “TEM / STEM JEOL 2100 UHR” resolución de 0,19 nm con un espectrómetro de dispersión de energía EDAX, un campo detector angular anular HAADF oscura y una cámara CCD Gatan.
Posibilidad de utilizar un calentador de portaobjetos.
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Fotos Stephane Pronier IC2MP Poitiers

Este dispositivo permite TEM convencional (campo claro), el de Alta Resolución (HREM), la difracción, STEM (HAADF brillante y de campo), el campo oscuro (fondo oscuro) y EDS.

La técnica de microscopía electrónica de transmisión es especialmente potente para la caracterización físico-química de los materiales, proporciona información sobre la estructura, composición química, la morfología de las muestras a escala atómica.
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Imagen de alta resolución de un bastón de oro eje de zona [001] – Stéphane Rousseau y Julie Poitiers Pronier IC2MP

La información morfológica de los objetos se da directamente en el modo de imagen, mientras que el aspecto estructural se obtiene más bien el modo de difracción.
La identificación y cuantificación de los elementos químicos presentes se preparan utilizando técnicas espectroscópicas tales como el análisis de dispersión de energía.

Como el detector de HAADF, permite obtener un contraste de la imagen Z. Esto permite un análisis cuantitativo de la densidad atómica proyectada desde la intensidad de las imágenes está directamente relacionada con el número atómico.

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Imagen HAADF SBA15 sílice mesoporosa y depósito de níquel lantano – Stéphane Rousseau y Julie Poitiers Pronier IC2MP

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